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明午 伸一郎; 松田 洋樹; 武井 早憲
Proceedings of 6th International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2017) (Internet), p.373 - 376, 2018/03
J-PARCセンターの核破砕中性子源(JSNS)やJ-PARCセンターで進めている核変換実験施設では、標的に入射する大強度陽子ビームの形状を測定するために、発光型のプロファイルモニタの開発を行っている。このため、量子科学技術研究開発機構の高崎量子応用研究所のTIARA施設において、アルミナ発光型のプロファイルモニタの試験をArビーム(エネルギ150MeV)を用いて行った。実際の使用が予定される耐放射線性型のファイバイメージスコープを用いてビーム形状を測定したところ、明瞭な形状が得られることが確認された。さらに、発光体のビームに起因する発光量の劣化をスペクトロメータを用いて測定した。その結果、700nmより長波長領域では2.5時間程度の照射時間で20%程度の発効劣化が観測された。一方、700nmより短波長領域では著しい劣化が無いことが確認されたため、測定する波長を選択することにより劣化の影響を防げることがわかった。本発表ではまた、JSNSで用いているプロファイルモニタの現状について報告を行う。
千葉 敦也; 石井 保行; 田島 訓
第15回タンデム加速器及びその周辺技術の研究会報告集, p.74 - 76, 2003/03
本研究では静電加速器に搭載されるイオン源のエミッタンスを簡単に短時間で測定できる装置の開発を目指す。一般的なエミッタンスの測定では、スリットを用いてピンホール状の孔を作り、この孔をビームに対して縦断するようにわずかずつ機械的に移動させ、スリット後方に配置した検出器により、この孔の位置とビームの発散角度を測定する。この方法ではスリットの細かな移動が必要とされ測定に時間がかかる。発生ビームは絶えず微妙に変化しているため正確なエミッタンスは得にくい。そこで図に示すように今回開発する装置では、多連スリット通過後のビームを発光体に入射し、縞状に発光した像をCCDカメラで画像化したものをパーソナルコンピュータ(PC)上に取り込み、この画像を数値解析することでエミッタンスを見積もる。取り込む画像に像を加えることで発散角の制度を増すことも可能である。この方法の場合、一般的な装置のようなスリットを移動させながらの測定を必要とせず、x軸及びy軸の各一組の多連スリット像でエミッタンスを評価するので、短時間にデータ(画像)を収集でき、ビーム電流の時間的変動を考慮する必要がない。
田中 高彬
JAERI-M 90-049, 25 Pages, 1990/03
輝尽発光体で作られたイメージング・プレート上に放射線像を記憶させ、レーザー光による励起とコンピュータによるデータ処理で像を再生する機能を持ったバイオイメージアナライザーは、生物試料のオートラジオグラフィ像の測定に使用されている。この機器から得られる二次元放射線像出力を定量的に解析するための研究を行った。輝尽発光体に記憶された放射線像は照射後の環境温度や経過期間に依存した像の退行を示す。
線を一定時間照射し、10
Cから40Cの環境温度のもとで1時間から14日間にわたる経過期間毎に出力を測定した。また、照射時間の関数として求められた出力から、フェーディングのない絶対出力を決定した。各期間毎のフェーディング率を算定し、各状況毎のフェーディング補正式を経過期間の関数として求めた。
線および
線照射後のフェーディングについても検討したところ、線の場合と一致することが確認された。
